Word abonnee en neem Beursduivel Premium
Rode planeet als pijlen grid met hoorntjes Beursduivel
Aandeel

RoodMicrotec NL0000440477

Laatste koers (eur)

0,336
  • Verschill

    0,000 0,00%
  • Volume

    0
  • Bied

    -  
  • Laat

    -  
+ Toevoegen aan watchlist

Het begon me te jeuken!

9 Posts
| Omlaag ↓
  1. forum rang 4 Opstapelen 18 mei 2006 20:55
    Ik ben niet zo een draadjes opener, mijn excuses alvast.
    Ik las onderstaand bericht en het begon me aan alle kanten te jeuken.
    Ik wilde bellen, faxen, wappen,mailen, schrijven, schreeuwen, en vooral de boodschap overbrengen.
    Wij hebben al een oplossing voor niet alle, maar vele problemen,

    The cost of testing a transistor will approach and may exceed the cost of manufacturing it, Professor Bashir Al-Hashimi at the University of Southampton, has warned.

    Al-Hashimi, who is at the university’s school of electronics and computer science, will outline his prediction at the European Test Symposium that is in Southampton, U.K. next week.

    “This is a serious matter for the electronics industry and the need to introduce novel test techniques to try to prevent this from happening has become more pressing,” said Al-Hashimi.

    Professor Stephen Furber at the computer engineering department at the University of Manchester, also speaking at the event, says the big challenge to be addressed is more effective testing of semiconductor devices.

    “I will suggest that the workings of the brain might provide the key to better chip design and test processes,” said Furber.

    Al-Hashimi believes that as the scaling down of CMOS transistors alongside system-on-chip design flow meet the demand for lower cost, highly reliable products, testing is becoming more difficult and costly.

    The cost of test can be calculated by adding factors such as: test preparation; test execution; puting design-for-test features such as chain scans onto a die; and the cost of imperfect testing.

    However, the cost of imperfect testing is not just down to good chips being thrown away because the tests are not accurate enough to prevent them being flagged as faulty.

    “There are also costs associated with circuits that are slowed down by having to include large scan chains,” said Al-Hashimi.

    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    Grrrrrrrrrrrr
    Erik

  2. [verwijderd] 18 mei 2006 21:09
    Mooi stuk Smartlapje. Zeer goed gevonden en tevens aanbevolen. De groei v.w.b het testen van chipdevices door Rood staat nog maar aan het begin. Rood Testhouse bevind zich in een uitermate geschikte positie en dat beseft het management maar al te goed. Het ROT-project wordt zeker booming.
  3. Ronson 18 mei 2006 23:26
    quote:

    schreef:

    Ik wilde bellen, faxen, wappen,mailen, schrijven, schreeuwen, en vooral de boodschap overbrengen.

    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    ROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROTROT
    Grrrrrrrrrrrr
    Erik
    :~DDDDDDDDDDDD

    Je mag van mij vaker een draadje openen met dergelijke berichten. Strong aanbevolen !!!!!
  4. Ronson 19 mei 2006 00:57
    Het bericht van Erik staat op de Electronic News site ( www.reed-electronics.com/electronicne... ).

    Maar als je dan naar de hoofdpagina van het Test & Measurement News kijkt zie je verder de volgende berichten en headlines staan:

    Test & Measurement News
    Transistor Testing Costs a 'Serious’ Problem
    Electronics Weekly — 5/18/2006
    The cost of testing a transistor will approach and may exceed the cost of manufacturing it, according to one professor who has studied the matter and will be presenting at the European Test Symposium next week.

    Agilent Up, Despite Spinoff
    Electronic News — 5/16/2006
    Even while spinning off Semiconductor Test Solutions from Agilent, the company pulls in revenue that is up 12 percent, orders that increased 21 percent and nearly tripled income for its fiscal Q2.

    More Test & Measurement News
    • STATS ChipPAC Director Resigns
    • ASE Revenue Up 39% Y/Y
    • UTAC Buys Floor Space on Low Q1
    • STATS ChipPAC Q1 Revenue Jumps 65%
    • Teradyne Co-Founder DeWolf Dies
    • ChipMOS March Revs Up 29% Y-O-Y
    More Test & Measurement News >>>

    www.reed-electronics.com/electronicne...

    Resumerend staat er dus dat de revenues (verdiensten dus) van de testbedrijven up, up en up zijn gegaan in Q1. Dit zegt mijn inziens wel iets over de test sector.
  5. Vai 19 mei 2006 09:58
    Aanbevolen en fantastisch. We zouden Jomanda eens moeten bellen voor een voorspelling over 2 jaar. €3,45 (na een splitsing van 1:5) ;-))
  6. [verwijderd] 19 mei 2006 10:38
    heerlijk berichten jongens, zo word maar weer eens duidelijk hoe belangrijk dit ROT project kan gaan worden. Hele slimme zet van Rood om het proces te standardiseren... leuk bericht op een tot op heden niet spectaculaire dag.. :D
9 Posts
|Omhoog ↑

Neem deel aan de discussie

Word nu gratis lid van Beursduivel.be

Al abonnee? Log in
Premium

Benieuwd naar onze analyses en kooptips?

Word nu abonnee van BeursDuivel en krijg onbeperkt toegang tot onze (koop)tips en succesvolle modelportefeuilles. Nu 3 maanden voor slechts €19,95! Profiteer van 55% korting!

Macro & Bedrijfsagenda

  1. 19 april

    1. Japan inflatie maart 2,7% YoY volitaliteit verwacht
    2. WDP Q1-cijfers
    3. EU producentenprijzen maart
    4. VK detailhandelsverkopen maart
    5. Fra ondernemersvertrouwen april
    6. KPN €0,098 ex-dividend
    7. CM.com jaarvergadering
    8. NSI jaarvergadering
    9. American Express Q1-cijfers
  2. 22 april

    1. NL investeringen februari
de volitaliteit verwacht indicator betekend: Market moving event/hoge(re) volatiliteit verwacht